?立式光學計測量軸徑的原理主要基于光學放大和機械測量相結合，具體步驟如下：

 1. 光學放大

- 光學系統：利用透鏡和反射鏡放大被測軸的影像，便于觀察和測量。

- 放大倍數：通常為10倍至100倍，確保微小尺寸變化清晰可見。

 2. 機械測量

- 測頭接觸：測頭與被測軸表面接觸，軸徑變化會使測頭產生微小位移。

- 位移傳遞：測頭的位移通過機械杠桿傳遞到光學系統的反射鏡。

 3. 光學信號轉換

- 反射鏡偏轉：測頭位移導致反射鏡偏轉，改變光路。

- 影像位移：反射鏡偏轉使影像在目鏡或顯示屏上發生位移。

 4. 測量讀數

- 刻度讀取：通過目鏡或顯示屏上的刻度讀取影像位移量。

- 計算軸徑：根據位移量和光學系統的放大倍數，計算出軸徑的實際尺寸。

 5. 數據處理

- 數據記錄：記錄測量結果，進行必要的數據處理和分析。

- 誤差校正：根據系統誤差和環境因素進行校正，確保測量精度。

 優點

- 高精度：光學放大和機械測量結合，精度可達微米級。

- 非接觸測量：減少對被測軸的損傷，適合高精度工件。

 應用

- 精密制造：用于高精度軸類零件的檢測。

- 質量控制：在生產過程中實時監控軸徑尺寸，確保質量。

 總結

立式光學計通過光學放大和機械測量相結合，實現高精度軸徑測量，廣泛應用于精密制造和質量控制領域。